[资产评估中利用年金资本化法求企业评估值具体步骤是什么]1.年金法。 ⑴年金法的基本公式 P=A/r (10-1) 式中： P——企业评估价值； A——企业每年的年金收益； r——折现率及资本化率。 ⑵年金法的公式变形 用于企业价值评估的年金法，是...+阅读
各位仁兄，请教已知XRD图谱怎么求具体残余应力值？跪谢
作者： gbhehe
对XRD不了解，使用XRD检测了WC的宏观残余应力，得到了不同机械加工条件下的XRD图谱，发现不同机械加工条件下的波峰没有偏移，应该是没有残余应力大小的差别。
但是能不能通过这图谱求出具体的宏观残余应力值那？具体应该怎么计算，有什么这方面的书或软件可以计算么？十分十分感谢各位大神。
XRD图谱
gbhehe
感谢二楼的回复，这些都看了，我的基础比较差，没有看到相关性太好的。还是不是太明白怎么弄，希望能有仁兄能够指导下
yznian
用JADE 里面有个自动的残余应力计算插件
spboyfzq
XRD有个专门的STRESS 分析的软件的
longway102
XRD很强大的，有专门的分析插件的。。
bobo-smile
JADE可以计算，你这个结晶度不好
什么是xrd分析
研究X射线波长和一般晶体晶格参数发现，两者的尺寸是数值相当或比较接近，从而有科学家断言，晶体晶格是X射线发生衍射现象的天然栅栏！后来果然得到了验证。晶体是这样；非晶体的物质没有这种有规律的格子排列格局，当然就不能获得X射线衍射现象了。 物质有没有固定的熔点、沸点，并没有验证是一个纯净物、包括晶体的独有的予以可区别其它物质的测试属性。晶体的熔点、沸点是相对比较固定，熔程也是比较窄，但拥有这一熔点、沸点的物质未必仅此一个；有些非晶体的纯净物，其熔点沸点也会在一定数值、熔程也会很窄。总之，可能在二十世纪初期还可以这样做，但现在更科学的大型精密仪器分析法出现后，就不被认同了。 X射线衍射原理及应用介绍： 特征X射线及其衍射 X射线是一种波长很短（约为20~0.06 nm）的电磁波，能穿透一定厚度的物质，并能使荧光物质发光、照相乳胶感光、气体电离。在用电子束轰击金属“靶”产生的X射线中，包含与靶中各种元素对应的具有特定波长的X射线，称为特征（或标识）X射线。考虑到X射线的波长和晶体内部原子间的距离（10^(-8)cm）相近，1912年德国物理学家劳厄（M.von Laue）提出一个重要的科学预见：晶体可以作为X射线的空间衍射光栅，即当一束X射线通过晶体时将会发生衍射；衍射波叠加的结果使射线的强度在某些方向上增强、而在其它方向上减弱；分析在照相底片上获得的衍射花样，便可确定晶体结构。这一预见随后为实验所验证。1913年英国物理学家布拉格父子（W.H.Bragg,W.L.Bragg）在劳厄发现的基础上，不仅成功地测定了NaCl、KCl等的晶体结构，并提出了作为晶体衍射基础的著名公式——布拉格定律： 2d sinθ=nλ，式中，λ为X射线的波长，衍射的级数n为任何正整数。 当X射线以掠角θ（入射角的余角，又称为布拉格角）入射到某一具有d点阵平面间距的原子面上时，在满足布拉格方程时，会在反射方向上获得一组因叠加而加强的衍射线。 X射线衍射应用：
1、当X射线波长λ已知时（选用固定波长的特征X射线），采用细粉末或细粒多晶体的线状样品，可从一堆任意取向的晶体中，从每一θ角符合布拉格条件的反射面得到反射。测出θ后，利用布拉格公式即可确定点阵平面间距d、晶胞大小和晶胞类型；
2、利用X射线结构分析中的粉末法或德拜-谢乐（Debye—Scherrer）法的理论基础，测定衍射线的强度，就可进一步确定晶胞内原子的排布。
3、而在测定单晶取向的劳厄法中所用单晶样品保持固定不变动（即θ不变），以辐射线束的波长λ作为变量来保证晶体中一切晶面都满足布拉格条件，故选用连续X射线束。再把结构已知晶体（称为分析晶体）用来作测定，则在获得其衍射线方向θ后，便可计算X射线的波长λ，从而判定产生特征X射线的元素。这便是X射线谱术，可用于分析金属和合金的成分。
4、X射线衍射在金属学中的应用 X射线衍射现象发现后，很快被用于研究金属和合金的晶体结构，出现了许多具有重大意义的结果。如韦斯特格伦（A.Westgren）(1922年)证明α、β和δ铁都是体心立方结构，β-Fe并不是一种新相；而铁中的α—→γ相转变实质上是由体心立方晶体转变为面心立方晶体，从而最终否定了β-Fe硬化理论。随后，在用X射线测定众多金属和合金的晶体结构的同时，在相图测定以及在固态相变和范性形变研究等领域中均取得了丰硕的成果。如对超点阵结构的发现，推动了对合金中有序无序转变的研究；对马氏体相变晶体学的测定，确定了马氏体和奥氏体的取向关系；对铝铜合金脱溶的研究等等。目前 X射线衍射（包括X射线散射）已经成为研究晶体物质和某些非晶态物质微观结构的有效方法。 在金属中的主要应用有以下方面：
（1）物相分析 是X射线衍射在金属中用得最多的方面，又分为定性分析和定量分析。定性分析是把对待测材料测得的点阵平面间距及衍射强度与标准物相的衍射数据进行比较，以确定材料中存在的物相；定量分析则根据衍射花样的强度，确定待测材料中各相的比例含量。
（2）精密测定点阵参数 常用于相图的固态溶解度曲线的绘制。溶解度的变化往往引起点阵常数的变化；当达到溶解限后，溶质的继续增加引起新相的析出，不再引起点阵常数的变化。这个转折点即为溶解限。另外点阵常数的精密测定可获得单位晶胞原子数，从而可确定固溶体类型；还可以计算出密度、膨胀系数等有用的物理常数。
（3）取向分析 包括测定单晶取向和多晶的结构（如择优取向）。测定硅钢片的取向就是一例。另外，为研究金属的范性形变过程，如孪生、滑移、滑移面的转动等，也与取向的测定有关。
（4）晶粒（嵌镶块）大小和微观应力的测定 由衍射花样的形状和强度可计算晶粒和微应力的大小。在形变和热处理过程中这两者有明显变化，它直接影响材料的性能。
（5）宏观应力的测定 宏观残留应力的方向和大小，直接影响机器零件的使用寿命。利用测定点阵平面在不同方向上的间距的改变，可计算出残留应力的大小和方向。
（6）对晶体结构不完整性的研究 包括对层错、位错、原子静态或动态地偏离平衡位置，短程有序，原子偏聚等方面的研究（见晶体缺陷...
求助怎样从XRD谱图计算材料的晶粒度和晶面间距
我简单的回答你的问题 X射线图谱可以测没一个面的晶粒大小 也可以测平均晶粒尺寸pengjuan（站内联系TA）这个算的不是很准的，只能作参考。λ不用介绍了，是你做的XRD仪的波长；θ是最强峰的衍射角，要注意图谱中一般给出的是2θ，还要注意单位是弧度还是度；B是半峰宽，比较麻烦，按标准的算法，应该有B的平方等于Bs的平方减去Bo的平方，意思是要扣除仪器本身以及标准样品产生的峰宽，如果你只是需要对比的话，建议你忽略掉，直接用最强峰的半峰宽代入计算。rcliutao（站内联系TA）二楼说的很正确！查专门的计算公式即可！xiao9xie（站内联系TA）Originally posted by robo5229 at 202-05 23:47:47：紧急求助~已经跑路回家滴人又被老板布置任务了，手头没书，只能求助小木虫的大家了~~~晶粒度的计算用谢勒 ... 你这金币也给得太少吧 ：D 不是很明白你的意思 你可以用crystal maker建立该晶体的模型 然后里面有计算某个面的间距的 很easy 关于建立模型 你可以从ICSD导出该相得cif文件 用crystal maker打开即可dongdong3881（站内联系TA）晶粒度 就按照二楼说的计算就行，至于面间距，你只要把XRD中主要的衍射峰对比标准卡片，就能标出各个衍射峰对应的晶面，这样每个晶面对应的面间距在卡片上已经给出了xiao9xie（站内联系TA）Originally posted by dongdong3881 at 210-26 10:40:16：晶粒度 就按照二楼说的计算就行，至于面间距，你只要把XRD中主要的衍射峰对比标准卡片，就能标出各个衍射峰对应的晶面，这样每个晶面对应的面间距在卡片上已经给出了 其实pdf卡片里面给的不全 要全的话可以先用crystal studio或者crystalmaker建立原子模型 里面就有相应的计算面间距的 只要输入晶面 就可以计算 任意晶面间距都可以 但我就是不知道怎么计算某个晶向与晶面间的夹角 不知你会不不然求教啊：tiger02:dongdong3881（站内联系TA）这个是有公式的 但要看这个晶体是属于什么对称性dongdong3881（站内联系TA）Originally posted by xiao9xie at 210-26 21:05:25：其实pdf卡片里面给的不全 要全的话可以先用crystal studio或者crystalmaker建立原子模型 里面就有相应的计算面间距的 只要输入晶面 就可以计算 任意晶面间距都可以 但我就是不知道怎么计算某个晶向与晶面间 ... 这个是有公式的 但要看这个晶体是属于什么对称性xiao9xie（站内联系TA）Originally posted by dongdong3881 at 210-28 19:05:42：版主 你是说计算某个晶向与某个晶面之间的夹角有公式吗？有的话求教啊：tiger17： 这个数学上就有公式啊 线与面的夹角 呵呵你看看这本书也行这个数学上就有公式啊 线与面的夹角 呵呵你看看这本书也行
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