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偏相关系数的偏相关系数的计算

03月18日 编辑 39baobao.com

[SPSS的这个相关系数矩阵是怎么做出来的]首先:analyze-correlate-bivariate-选择变量 之后,OK 输出的就是相关系数矩阵(相关系数下面的Sig是显著性检验结果的P值,越接近0越显著) 表格下方也有一些相关解释,记得看明白再做...+阅读

偏相关系数的计算可以有下面的三种方法(详细的计算方法见参考文章)

1 根据上面的说法,从线性回归的角度计算变量间的偏相关系数,但是这样做很麻烦。

2 迭代法,可以认为简单相关系数为0阶偏相关系数,任何n阶偏相关都可以通过3个(n-1)阶偏相关系数计算出来。

3 相关矩阵求逆法,即首先计算出所有变量的相关性矩阵,然后求它的逆矩阵。这样可以求出任何两两变量之间的偏相关系数。

偏相关系数的检验可以有两种方法。一种是t-test,另外一种fisher 转化法。

利用偏相关系数进行变量间净相关分析通常完成两大步:

第一:计算样本的偏相关系数。

利用样本数据计算偏相关系数,反应了两个变量间净相关的强弱程度。在分析变量x1和x2之间的净相关时,当控制了变量x3的线性作用后,x1和x2之间的一阶偏相关系数定义为:

第二:对样本来自的两个总体是否存在显著的净相关进行推断:

1)提出原假设,即两总体的偏相关系数与零无显著差异。

2)选择检验统计量。偏相关分析的检验统计量为t统计量,它的数学定义为:

式中,r为偏相关系数,n为样本数,q为阶数。统统计量服从n-q-2个自由度的t分布。

3)计算检验统计量的观测值和对应的概率p-值。

4)决策。如果检验统计量的概率p-值小于给定的显著性水平α,则应拒绝原假设,反之,则不能拒绝原假设。

谁能给我详细的说一下QC七大手法里的管制图

1.管制图基本原理: 统计理论认为母体参数可由随机抽取的样本来估计,SPC图的统计基础即在于此。但是,SPC图并不能控制一个制程,它只是提供制程重要的信息,这个信息可以作为质量决策与修正制程的基础。一般spc[/url] 图提供三条制程信息的管制线:上管制线(upper control limit, UCL)﹑中心线(center line, CL)﹑下管制线(lower control limit, LCL)。不同制程管制对象有不同的数据,所有的数据都可归类到下列其中一种: 1.分类数据-将产品质量分为「好或不好」、「合格或不合格」等。 2.计数数据-记录某产品的某个特性发生次数,例如错误次数﹑意外次数﹑销售领先次数等。 3.连续数据-某个质量特征的量测值,例如尺寸﹑成本﹑时间等。 前两种数据为计数值数据,第三种为计量值资料。

收集数据时,如果可能应该尽量收集定量数据,因为定量管制图所需的比较性计算较少,而且能提供较多的信息。 基本计算: 管制图可用一通式来表示,假设y为量测质量特性之样本统计量,y之平均数为μy,标准差为δy,则 UCL=μy+kδy 中心线=μy LCL=μy-kδy 其中kδy为管制界限至中心线之距离。此管制图之理论首先由美国之Waiter A. Shewhart博士提出,任何依据此原理发展出之管制图都称为Shewhart (苏华特)管制图。 应用范围 管制图之应用有许多方式,在大多数之应用上,管制图是用来做制程之在线(on-line)监视。亦即收集制程样本数据用来设立管制图,若样本值落在管制界限内且没有任何系统性之变化,则称制程在管制内。管制图也可以用来决定过去之制程数据是否在管制内,及末来之制程是否将在管制内。

管制图也可用来做为估计之工具,当制程是在管制内时,则可预测一些制程参数,例如平均数、标准差、不合格率等。此种制程能力分析对于管理者之决策分析有相当大之影响,例如自制或外购之决策,工厂及制程之改善以降低变异,及与供货商或顾客间之合约。 管制图实施步骤 1. 选择质量特性 2. 决定管制图之种类 3. 决定样本大小 在设计管制图时,我们必须决定样本之大小(sample size)及抽样之频率。一般而言,大样本可以很容易地侦测出制程内小量之变动。当选定样本大小时,必须先决定所要侦测之制程变动的大小。当制程变动量相当大时,则适合使用小样本,反之,若制程变动小时则使用大样本。除了决定样本大小外,我们同时须决定抽样之频率。最理想之状况是次数频繁地抽取大样本。

但从经济观点而言,此并非最佳之抽样方法。较可行之方法是在长时间间隔下取大样本或短时间间隔下取小样本。在大量生产下或有多种可归属原因出现下,较适合样本小而次数多之抽样。由于检测器和自动量测技术之发展,目前之趋势倾向100%检验。 管制图的不稳定检定方法: 不稳定型态之检定方法: 检定法则一: 有单独一个点子出现在3A 之外者. 检定法则二: 连续三点之中有两点落在A 区或甚至A区以外者. 检定法则三: 连续五点之中有四点落在B 区或甚至于B区以外者. 检定法则四: 连续有八点落在C区或甚至于C区以 外者. 检定法则五: 连续几点同一方向时: A.连续五点继续上升或下降-注意 以后后动态. B.连续六点继续上升或下降-开始 调查原因. C.连续七点继续上升或下降-必有 原因,应立即采取措施.

QC7大手法的管制图为什么意思

1、简易七手法:甘特图、流程图、5W2H、愚巧法、雷达法、统计图、推移图

2、QC旧七大手法:特性要因分析图、柏拉图、查检表、层别法、散布图、直方图、管制图

3、QC新七大手法:关连图、系统图法、KJ法、箭头图法、矩阵图法、PAPC法、矩阵数据解 析法 计数值:以合格数、缺点数等使用点数计算而得的数据一般通称为计数数据。

(数一数) 计量值:以重要、时间、含量、长度等可以测量而得来的数据,一般为计量值,如长度、重要、浓度,有小数点的凡四舍五入都称之。(量一量) QC七大手法由五图,一表一法组成: 五图:柏拉图、散布图、直方图、管制图、特性要因分析图(鱼骨图) 一表:查检表(甘特图) 一法:层别法

4、管制图:

(1) 何为管制图: 为使现场之品质状况达成吾人所谓之“管理”作业,一般均以侦测产品之 品质特性来替代“管理”作业是否正常,而品质特性是随着时间、各种状况有着高低的变化; 那么到底高到何种程度或低至何种状况才算吾人所谓异常?故设定一合理之高低界限,作为吾人探测现场制程状况是否在“管理”状态,即为管制图之基本根源。

管制图是于1924年由美国品管大师修哈特博士所发明。而主要主义即是【一种以实 际产品品质特性与依过去经验所研判之制程之能力的管制界 限比较,而以时间顺序 用图形表示者】。

(2) 基本特性: 一般管制图纵轴均设定为产品的品质特性,而以制程变化的数据为分度;横轴则为检测制品之群体代码或编号或年月日等,以时间别或制造先后别,依顺序将点绘于图上。

在管制图上有三条笔直的横线,中间的一条为中心线(Center Line,CL),一般以蓝色之实线绘制。左上方的一条称为管制上限(Upper Control Limit,UCL),在下方的称为管制下限(Lower Control Limit,LCL),对上、下管制界限之绘制,则一般均用红色之虚线表现之,以表示可接受之变异范围;至于实际产品品质特性之点连线条则大都以黑色实线表现绘制之。

(3) 管制图原理: 1)品质变异之形成原因 一般在制造的过程中,无论是多么精密的设备,环境,其品质特性一定都会有变动,绝无法做完全一样的制品;而引起变动的原因可分为两种,一种为偶然(机遇)原因,一种为异常(非机遇)原因。 2)管制图界限之构成: 管制图是以常分配中之三个标准差为理论依据,中心线为平均值,上、下管制界限以平均数加减三个标准差(±3σ)之值,以判断制程中是否有问题发生,此即修哈特博士所创之法。

(4) 管制图种类: 1)依数据性质分类: A 计量值管制图:所谓计量值系指管制图之数据均属于由量具实际量测而得;如长度、重量、浓度等特性均为连续性者。常用的有: a 平均数与全距管制图(X(—)-R Chart) b 平均数与标准差管制图(X(—)-σChart) c 中位数与全距管制图(X(~)-R Chart) d 个别值与移动全距管制图(X-Rm Chart) e 最大值与最小值管制图(L-S Chart) B 计数值管制图:所谓计数值是指管制图之数据均属于单位计算数者而得;如不良数、缺点数等间断性数据均属之。

常用的有: a 不良率管制图(P Chart) b 不良数管制图(Pn chart ,又称np chart或d chart) c 缺点数管制图(C chart) d 单位缺点数管制图(U chart) 2)计数值与计量值管制图之应用比较 计量值 计数值 优点

1、甚灵敏,容易调查真因。

2、可及时反应不良,使品质稳定。

1、所须数据可用简单方法获得。

2、对整体品质状况之了解较方便。

缺点

1、抽样频度较高、费时麻烦。

2、数据须测定,且再计算,须有训练之人方可胜任。

1、无法寻得不良之真因。

2、及时性不足,易延误时机。

(5) 管制图之绘制: 说明:计量值管制图(X-R)常用 1)先行收集100个以上数据,依测定之先后顺序排列之。 2)以2~5个数据为一组

(一般采4~5个),分成约20-25组。 3)将各组数据记入数据表栏位内。

4)计算各组之平均值X。(取至测定值最小单位下一位数) 5)计算各组之全距R。(最大值-最小值=R) 6)计算总平均X。 X=(X1+X2+X3+…+Xk)/k=ξXi/k(k为组数) 7)计算全距之平均R: R=(R1+R2+R3+…+Rk)/k=ξRi/k 8)计算管制界限 X管制图:中心线(CL)=X 管制上限(UCL)=X+A2R 管制下限(LCL)=X-A2R R管制图:中心线(CL)=R 管制上限(UCL)=D4R 管制下限(LCL)=D3R A2,D3,D4之值,随每组之样本数不同而有差异,但仍遵循三个标准差之原理,计算而得,今已被整理成常用系数表。

9)绘制中心线及管制界限,并将各点点入图中。 10)将各数据履历及特殊原因记入,以备查考、分析、判断。

(6) 管制点之点绘制要领: 1)各项工程名称、管制特性、测定单位、设备别、操作(测定)者、样本大小、e69da5e6ba90e799bee5baa6e79fa5e9819331333264646463材料别、环境变化…等任何变更资料应清楚填入,以便资料之分析整理。 2)计量值变更管制图(X-R,X-R…等)其X管制图与R管制图的管制界限席宽度取法,一般原则以组之样本数(n)为参考,X管制图之单位分度约为R管制图之1/n倍。

(纵轴管制界限宽度约20-30m/m;横轴各组间隔约2-5mm) 3)中...

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